Messtechnik

Für optische und topografische Charakterisierungen von Oberflächen setzen wir optische Mikroskopie, hochauflösende Rasterelektronen- und Rasterkraftmikroskopie sowie optische und mechanische Profilometer ein.

 

Messtechnik

Strukturgrößen und -geometrien können mit den von uns eingesetzten Instrumenten auf Lackmastern, Shims, Sleeves, Folien und Komponenten mit hoher Präzision gemessen werden.

Ein automatisierter Mikroskopie-Messplatz ermöglicht das Scannen von Strukturoberflächen und die Charakterisierung von Strukturmerkmalen und Defekten. Ein Inline-Inspektionssystem in unseren UV-Imprint Rolle-zu-Rolle Fertigungsstraßen misst die Schichtdicke und erkennt Defekte, um die Produktionsqualität zu kontrollieren und zu dokumentieren.

 

Ansprechpartner

Charakterisierung

Funktion

der Oberfläche
Charakterisierung

optische

Eigenschaften
Charakterisierung

topografische

Eigenschaften